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표면거칠기 측정기

  • 제조사TOKYO SEIMITSU Co.(일본)
  • 모델명SURFCOM 1500SD2-13
등록일 : 2011/07/28
주요사양
○ 사용 전원: AC 100~240V, 50/60Hz
○ Z축 측정범위/해상도: 1,000㎛/0.02㎛~6.4㎛/0.0001㎛
○ X축 측정범위/해상도: 100mm/0.04㎛, 32,000point
○ 측정속도: 0.03~3mm/s
○ Z축 측정배율: 50× ~ 500K×
○ X축 측정배율: 0.1× ~ 20K×
○ 전동칼럼 상/하 이동속도: 3~10mm/s
○ 설치크기(W×D×H): 1250×850×1500mm
○ 진직도: (0.05+1.0L/1,000)㎛, 측정길이 L(mm)
용도
다이아몬드 촉침(detector)으로 측정 대상물 표면 위를, 매우 작은 일정 접촉력(0.75mN)을 유지한 상태로 표면을 주사(scanning)하며 높이 데이터를 고해상도로 측정하여 컴퓨터 프로그램으로 미세 표면형상을 얻는다. 이러한 표면형상의 디지털 정보로부터 표면 거칠기 및 미세형상 등을 측정하는 장비이다.

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